Цена дифрактометра анализаторов рентгеновской дифракции (XRD)

DW-XRD-Y3000 Решение по технологии рентгеновской дифракции (XRD)

I. Краткое описание

Рентгеновский дифрактометр (XRD) является широко используемым большим анализатором для изучения внутренней структуры материалов. Он может точно определить кристаллическую структуру, параметры решетки и провести качественный или количественный анализ материалов. Установкой некоторых аксессуаров можно осуществить определение структуры, макро- или микронапряжений, размера кристаллов и степени кристалличности и т.д. Поэтому он имеет широкое применение в науке о материалах, физике, химии, химической технологии, металлургии, минералогии, медицине, строительных материалах, керамике... И во многих других дисциплинах и отраслях промышленности.

XRD является универсальным измерительным прибором для выявления кристаллической структуры и химической информации материалов:

l Определение одной или нескольких фаз в неизвестных образцах;

l Количественный анализ известных фаз в смешанных образцах;

l Анализ кристаллической структуры;

l Идеальное сочетание аппаратного и программного обеспечения может удовлетворить потребности ученых и исследователей в различных областях применения;

l Система высокоточного гониометра позволяет получить более точные результаты измерений; 

l Благодаря системе управления рентгеновским генератором с высокой стабильностью можно получить более стабильную точность повторных измерений; 

l Программируемая работа, интегрированная конструкция, простота в использовании и более красивый внешний вид прибора.

II. DW-XRD-Y3000 XRD Свойства и технические параметры

1.  Высоковольтный генератор(С использованием импортированной технологии управления ПЛК):

l Номинальная мощность:3кВт;

l Напряжение на трубке:10~60кВ  Оно автоматически управляется с компьютерного терминала(1кВ/шаг);

l Ток трубки:5~80мА  Он автоматически управляется с помощью компьютерного терминала(1мА/шаг);

l Стабильность напряжения и тока трубки≤0.01%;

l Защита от пере напряжения, пере тока, пере мощности и низкого уровня воды;

l Рентгеновская трубка:Cu мишеньМощность 2.0кВт; 

l Oптический затвор переключатель автоматически управляется с помощью компьютерного терминала;

l Одноцелое охлаждающее устройство, Охлаждающее устройство имеет одноцелую конструкцию, и автоматическая система управления температурой может показывать температуру воды рентгеновской трубки.

1.   Блок записи и управления

l Закрытый сцинтилляционный счетчик

l Автоматическое дифференциальное и iнтегральное преобразование

l Базовая линия и ширина канала: 0%~99%

l Непрерывно регулируемое высокое напряжение детектора : 0~2000В

l Стабильность высокого напряжения детектора: ≤0.01%

l Дополнительный материал мишени рентгеновской трубки: Cr,Fe,Co,Cu,Mo

l Анализ энергетического спектра (Cu,Kα Кривая): ≤25%(PC),≤50%(SC)

2.   Общая стабильность

Общая стабильность системы ≤0.3%;

3.   Габаритные размеры

Основное устройство дифрактометра рентгеновских лучей (XRD) :1100×950×1750мм

4.   Защита от рентгеновских лучей до национального стандарта

5.   Программное обеспечение онлайн-управления

     Программное обеспечение онлайн-управления может отдавать команды системе РСА на выполнение непрерывного сканирования или пошагового сканирования и сбора данных. Программное обеспечение может обрабатывать общие дифракционные данные и управлять файлами на диске. Обработка данных включает поиск пиков (автоматический и ручной), одиночный пик интегральная интенсивность расчет, сглаживание, увеличение формы пика, многократное рисование и т.д.

6.   Прикладное программное обеспечение (английский интерфейс)

8.1  Функции управления:

      Дифракционный пик , перекрывающее сканирование, измерение чистой интенсивности, таймер-счетчик, гониометр вращение, шаг гониометра вперед и назад, настройка гониометра, калибровка 2θ, управление оптическим затвором тока и напряжения трубки.

8.2  Функция анализа и обработки данных:

8.2.1  Сглаживание, вычитание фона, отделение Kα2, поиск пиков(отметка значения D, значения θ, d, 2θ интенсивности, полувысотной ширины пика, отображение всех параметров и множество представлений методов дифракционного пика), изменение шага выборки, устранение, устранение посторонних пиков и интерферирующих пиков, коррекция данных d и положения пика.

8.2.2 Вычисление интегральной площади, интегральной ширины, полувысотной ширины пика; Сравнение спектральных графиков, сложение и вычитание карт, и комбинация карт; Вставка текста в любом месте на карте; Два вида курсоров (малый верир, большой курсор);Множественная функция масштабирования; Несколько координатных режимов (линейные координаты, логарифмические координаты, квадратные координаты).8.2.3  Максимальное усиление: пользователь может произвести любое увеличение карты с помощью левой и правой кнопок мыши.

8.3   Качественный анализ:

Можно выполнять автоматический поиск и ручной поиск. Результаты автоматического поиска включают: номер карты, молекулярную формулу, индекс соответствия, коэффициент надежности и значение K. Можно провести полуколичественный анализ и анализ значения k.

8.4   Количественный анализ:

При стандартном добавочном методе, внутреннем стандартном методе и методе поглощающего коэффициента N компонентов коэффициент поглощения двух компонентов различается.

8.5   Вычисляется кристалличность методом суб-пика

Во время процесса разделения пиков можно напрямую изменить параметры суб-пика с помощью мыши и интуитивно увидеть разницу между аппроксимированным спектром и измеренным спектром.

8.6   Оно может осуществлять уточнение параметров ячейки.

8.7   Индексирование.

8.8  Калибровка дифракционных данных:

          Используя стандартные дифракционные данные CARDS (группы 1 - 54), отклонения исходных данных измерения корректируются, а ошибки измерения прибора устраняются.

III. DW - XRD - Y3000 Условия работы рентгеновского дифрактометра

1. Основное устройство Питание: трехфазная пятипроводная система, одиночное 220В (две группы, разные фазы), ток в каждой фазе 20А (проводной диаметр 6мм²), в распределительном шкафу должно быть не менее 2 групп автоматических выключателей выше C32 (включая одну группу для компьютера), расстояние от распределительного шкафа до места установки основного устройстване должно превышать 4 метров;

2.Сопротивление заземляющего провода ≤4 Ω;

3.Внутри помещения температура должна поддерживаться на 20℃±5℃

4.Схема электропитания не должна быть подвержена помехам от мощного электрооборудования;

5.Внутри помещения необходимо предотвращать статическое электричество, пыль, удары, шум (менее 50 дБ);

6.Внутри помещения относительная влажность должна быть контролирована ниже 70% (рекомендуется установить кондиционер или дегумедификатор);

7.Внутри помещения должно быть водоснабжение и отведение воды